特長

・特許取得済みの同期測定技術により、レーザ回折・散乱式の可能性を広げました。
・レーザ回折・散乱式の測定を簡単に、速く、正確に、再現性よく行うことができるだけでなく、サンプルセル 内の同一サンプルに対して、同時にダイナミックな画像解析を行うことができます。