特長

Ｘ線回折装置Empyrean（エンピリアン）は、粉末、薄膜、ナノ材料、バルク試料の結晶相、化学同定、結晶化度、応力、結晶構造を測定するだけでなく、粒子サイズ測定のための小角散乱、薄膜の膜厚、密度を測るＸ線反射率測定まで多様な情報を解析。〇多様なサンプル測定に自動光学系が対応　〇SAXS(X線小角散乱）、電池透過オペランド測定、薄膜測定、温度可変等の高度な測定にも柔軟に対応　〇金属など蛍光Ｘ線が発生しやすい試料ノイズを低減する高エネルギー分解能半導体検出器もご用意しています。